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26. - 28. Februar 2019 // Nürnberg, Germany

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XJTAG Boundary Scan Test

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Das elektrische Testen von bestückten Leiterplatten wurde bisher mit Nadelbrettadaptern in In-Circuit- oder Flying-Probe-Testern durchgeführt. Dies setzt aber voraus, dass die Signale entweder an Kontaktstellen oder speziellen Testpunkten mechanisch erreichbar sind. Durch die Miniaturisierung wird der verfügbare Platz immer kleiner und es wird schwieriger, die benötigte Anzahl von Testpunkten zu platzieren. Bei BGA-Bauteilen, die über Innenlagen mit anderen BGAs verbunden sind, können Signale teilweise nicht nach außen geführt werden, da dies Einfluss auf die Signalqualität hat.

Boundary-Scan ist eine weitere Testmethode, die als Ergänzung zu den bisherigen Testverfahren eingesetzt werden kann. Viele BGAs verfügen heute bereits über eine vier- bzw. fünfpolige JTAG-Schnittstelle. Werden BGAs auf einer Leiterplatte mit einem JTAG-Bus verbunden, so können diese getestet und deren angrenzende Bauteile, wie z.B. RAM, Flash, usw., in den elektrischen Selbsttest einbezogen werden.

Die Boundary-Scan-Lösung von XJTAG bietet eine kostengünstige Möglichkeit, Prüfprotokolle für Boundary-Scan-Tests zu erstellen. Bei Lieferung erhalten Sie einen Koffer mit dem kompletten Equipment, bestehend aus Hard- und Software, um Boundary-Scan-Tests erfolgreich durchführen zu können. Mit XJLink, dem USB-Schnittstellen-Adapter, wird die Verbindung zwischen PC und der JTAG-Schnittstelle auf der Prototypen-Leiterplatte hergestellt.

Die mitgelieferte Software hilft bei der Erstellung eines vollständigen Prüfprotokolls. Eine Bibliothek enthält die internen Modelle der JTAG-fähigen Bauteile, die man miteinander verbindet. Nicht enthaltene Modelle erstellt XJTAG kostenlos. Ebenfalls enthalten sind ein Demoboard sowie ein entsprechendes Tutorial, mit dem die Anwendung der Software erlernt werden kann.

XJTAG DFT Assistant für OrCAD Capture

Mit dem kostenlosen Plug-In XJTAG DFT Assistant kann in der Leiterplatten-Entwurfssoftware OrCAD Capture in wenigen Minuten die Testabdeckung der Schaltung angezeigt werden. Mit diesen frühzeitigen Informationen über die Testbarkeit wird ein Design For Test stark vereinfacht und so die Anzahl von nachträglichen Änderungen deutlich verringert.

OrCAD PCB Designer Lite

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OrCAD PCB Designer Standard

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OrCAD Sigrity ERC

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PSpice Advanced Analysis

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