27. Februar - 1. März 2018 // Nürnberg, Germany

Konferenzen und Rahmenprogramm

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Session 32 - Software Engineering VI - Software Testing

Self-testing in Embedded Systems Vortragssprache Englisch

All electronic systems carry the possibility of failure. An embedded system has intrinsic intelligence that facilitates the possibility of predicting failure and mitigating its effects. This paper reviews the options for self-testing that are open to the embedded software developer. Testing algorithms for memory are outlined and some ideas for self-monitoring software in multi-tasking and multi-CPU systems are discussed.

--- Datum: 01.03.2018 Uhrzeit: 14:30 Uhr - 15:00 Uhr Ort: Conference Counter NCC Ost

Sprecher

man

Colin Walls

/ Mentor, a Siemens Business

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