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2. - 4. März 2021 // Nürnberg, Germany

Konferenzen und Rahmenprogramm

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SESSION 6.4 I SW-Engineering IV - Testing & Debugging I

Practical Software Testing Techniques and Guidelines for Embedded Systems Vortragssprache Englisch

Embedded technology has revolutionized sectors of the industry in ways that were previously never thought possible. For this reason, product testing is becoming increasingly important. Ensuring that our embedded technology functions properly is a priority for most companies, regardless of where that technology happens to be located. In this presentation we will explore white box and black box techniques for testing embedded systems, talk about system and performance testing, and summarize some of the unique testing requirements and approaches for real-time embedded systems. Topics include static and dynamic analysis techniques, exploratory testing, equivalence partitioning and boundary value analysis, and hueristics based testing methods.

--- Datum: 26.02.2020 Uhrzeit: 11:30 - 12:00 Uhr Ort: Conference Counter NCC Ost

Sprecher

man

Prof. Robert Oshana

/ NXP Semiconductors N.V.

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