Diese Website verwendet Cookies, um das Angebot nutzerfreundlicher und effektiver zu machen. Mit der Nutzung dieser Website stimmen Sie der Verwendung von Cookies zu. Weitere Informationen über die Verwendung von Cookies und die Möglichkeit der Verwendung von Cookies zu widersprechen, finden Sie hier.

25. - 27. Februar 2020 // Nürnberg, Germany

Konferenzen und Rahmenprogramm

Zurück zur Tagesansicht
Vorträge Aussteller-Forum

Overcoming the challenges of rapid change in Automotive leveraging an Open HIL platform Vortragssprache Englisch

Rapid functionality growth in modern vehicles directly leads to exploding test complexity when validating embedded software. To fulfill cost and timeline restrictions it is necessary to rely on as much reuse as possible for both test cases and test systems. An Open HIL platform is key to multi-vendor heterogeneous systems which will allow a best-in-class approach for test automation.

--- Datum: 27.02.2019 Uhrzeit: 14:30 - 15:00 Uhr Ort: Aussteller-Forum, Halle 3, 3-719

Sprecher

man

Daniel Clapham

National Instruments Germany GmbH

top

Der gewählte Eintrag wurde auf Ihre Merkliste gesetzt!

Wenn Sie sich registrieren, sichern Sie Ihre Merkliste dauerhaft und können alle Einträge selbst unterwegs via Laptop oder Tablett abrufen.

Hier registrieren Sie sich, um Daten der Aussteller- und Produkt-Plattform sowie des Rahmenprogramms dauerhaft zu speichern. Die Registrierung gilt nicht für den Ticket- und AusstellerShop.

Jetzt registrieren

Ihre Vorteile auf einen Blick

  • Vorteil Sichern Sie Ihre Merkliste dauerhaft. Nutzen Sie den sofortigen Zugriff auf gespeicherte Inhalte: egal wann und wo - inkl. Notizfunktion.
  • Vorteil Erhalten Sie auf Wunsch via Newsletter regelmäßig aktuelle Informationen zu neuen Ausstellern und Produkten - abgestimmt auf Ihre Interessen.
  • Vorteil Rufen Sie Ihre Merkliste auch mobil ab: Einfach einloggen und jederzeit darauf zugreifen.